芯片解密過程中使用的電子探針儀是X射線光譜學(xué)與電子光學(xué)技術(shù)相結(jié)合而產(chǎn)生的。以聚焦的高速電子來激發(fā)出試樣表面組成元素的特征X射線，對微區(qū)成分進(jìn)行定性或定量分析的一種材料物理試驗，又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細(xì)聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內(nèi)層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補(bǔ)空位而釋放能量，從而產(chǎn)生特征X射線。
　　用波長色散譜儀（或能量色散譜儀）和檢測計數(shù)系統(tǒng)，測量特征X射線的波長（或能量）和強(qiáng)度，即可鑒別元素的種類和濃度。
　　在不損耗試樣的情況下，電子探針通常能分析直徑和深度不小于1微米范圍內(nèi)、原子序數(shù)4以上的所有元素；但是對原子序數(shù)小于12的元素，其靈敏度較差。常規(guī)分析的典型檢測相對靈敏度為萬分之一，在有些情況下可達(dá)十萬分之一。檢測的絕對靈敏度因元素而異，一般為10-14～10-16克。用這種方法可以方便地進(jìn)行點、線、面上的元素分析，并獲得元素分布的圖象。對原子序數(shù)高于10、濃度高于10％的元素，定量分析的相對精度優(yōu)于±2％。
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　額外的系統(tǒng)資源
在前面列出了系統(tǒng)資源，其中有些
部分，提供有用的附加功能來完成
系統(tǒng)。額外的資源，包括低電壓檢測和
上電復(fù)位。列出每個系統(tǒng)資源的優(yōu)點
在這里：
I2C從設(shè)備/ SPI主從模塊提供50/100/400
超過兩條線kHz的通信能力。 SPI通信的多
三或四線運行在46.9 kHz至3 MHz的速度（較低
較慢的系統(tǒng)時鐘）。
I2C硬件地址識別功能降低
已經(jīng)省去了低功耗
CPU干預(yù)，直到數(shù)據(jù)包到目標(biāo)設(shè)備
被接收。
低電壓檢測（LVD）中斷信號
下降電壓等級的應(yīng)用，同時配備先進(jìn)的POR
（上電復(fù)位）電路消除了系統(tǒng)的需要
監(jiān)事。
內(nèi)部參考提供了一個絕對的參考卡帕克
itive檢測。
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