跟著運(yùn)用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)物不斷出現(xiàn)，相應(yīng)的PCB的裝置和測(cè)驗(yàn)作業(yè)已越來(lái)越重要。印制電路板的通用測(cè)驗(yàn)是PCB職業(yè)傳統(tǒng)的測(cè)驗(yàn)技能、

　　由于半導(dǎo)體封裝技能的開(kāi)展，元器件開(kāi)端有了更小的封裝及貼片(SMT)封裝，規(guī)范密度通用測(cè)驗(yàn)開(kāi)端不再適用， 所以九十年代中期，歐美的測(cè)驗(yàn)廠商又推出了雙倍密度測(cè)驗(yàn)機(jī)，并結(jié)合用必定的鋼針斜率制造夾具以變換PCB測(cè)驗(yàn)點(diǎn)與機(jī)器網(wǎng)格銜接，跟著HDI制程技能的逐步老練，雙倍密度通用測(cè)驗(yàn)又不能徹底滿意測(cè)驗(yàn)的需要，所以在2000年左右，歐洲測(cè)驗(yàn)機(jī)廠商又推出了四倍密度網(wǎng)格通用測(cè)驗(yàn)機(jī)。
　　二、通用測(cè)驗(yàn)的關(guān)鍵技能
　　1.開(kāi)關(guān)元件
　　要滿意大部份HDI PCB的測(cè)驗(yàn)需求，測(cè)驗(yàn)面積必需要足夠大，通常有以下規(guī)范尺度：9.6×12.8(inch)、16 X12.8(inch)、24×19.2(inch)，在雙密度滿網(wǎng)格(Full Grid)狀況下，上述三種尺度測(cè)驗(yàn)點(diǎn)數(shù)分別是49512、81920、184320，電子元件的數(shù)量高達(dá)數(shù)十萬(wàn)，開(kāi)關(guān)元件是確保測(cè)驗(yàn)安穩(wěn)的一個(gè)中心元件，需求其具有耐高壓(>300V)、低漏電等功能，一起電阻值等電氣功能要均衡共同，所以這類元件必定要經(jīng)過(guò)嚴(yán)厲的挑選與檢測(cè)，通常以晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管作為開(kāi)關(guān)元件
　　晶體三極管的優(yōu)缺點(diǎn)：
　　長(zhǎng)處：本錢低，抗靜電擊穿能力強(qiáng)，安穩(wěn)性高;
　　缺點(diǎn)：電流驅(qū)動(dòng)，電路比擬復(fù)雜，需阻隔基流(Ib)影響，功耗大
　　場(chǎng)效應(yīng)管的優(yōu)缺點(diǎn)：
　　長(zhǎng)處：電壓驅(qū)動(dòng)，電路簡(jiǎn)略，不受基流(Ib)影響，功耗小
　　缺點(diǎn)：本錢高，很容易發(fā)作靜電擊穿，需加靜電保護(hù)措施，安穩(wěn)性不高，所以會(huì)添加修理本錢。
　　2.網(wǎng)格點(diǎn)的獨(dú)立性
　　滿網(wǎng)格(Full Grid)
　　每個(gè)網(wǎng)格有獨(dú)立的開(kāi)關(guān)回路，即每個(gè)點(diǎn)都占用一組開(kāi)關(guān)元件及線路，整個(gè)測(cè)驗(yàn)面積都能按四倍密度撒針。
　　同享網(wǎng)格(Share Grid)
　　由于滿網(wǎng)格的開(kāi)關(guān)元件數(shù)量多且線路比擬復(fù)雜，難于完成，所以某些測(cè)驗(yàn)廠商運(yùn)用網(wǎng)格共用技能，使不一樣區(qū)域的幾個(gè)點(diǎn)共用一組開(kāi)關(guān)元件和線路，然后減小了布線的難度和開(kāi)關(guān)元件的數(shù)量，咱們稱之為同享網(wǎng)格(Share Grid)。同享網(wǎng)格有一個(gè)很大的缺點(diǎn)，假設(shè)一個(gè)區(qū)域的點(diǎn)己經(jīng)被徹底占用了，那么與之同享的區(qū)域的點(diǎn)就不能再用，以致降低了該區(qū)域的密度為單密度。所以在較大面積HDI測(cè)驗(yàn)仍存在密度的瓶頸。
　　3.布局的組成
　　模塊化布局
　　一切的開(kāi)關(guān)陣列、驅(qū)動(dòng)有些以及控制元件被高度集成為一組開(kāi)關(guān)卡模塊，測(cè)驗(yàn)面積可由該模塊自由組合，而且能夠交換，毛病率低，保護(hù)及晉級(jí)簡(jiǎn)略，但本錢偏高。
　　繞線式布局
　　網(wǎng)格由繞線繃簧針與別離開(kāi)關(guān)卡組成，體積巨大，無(wú)晉級(jí)空間，毛病時(shí)保護(hù)較艱難。
　　4.夾具的構(gòu)成
　　長(zhǎng)針布局夾具
　　泛指鋼針為3.75"(95.25mm)的夾具布局，長(zhǎng)處為撒針斜率較大，單位面積內(nèi)可撒針點(diǎn)數(shù)較短針布局多20%~30%。但布局強(qiáng)度較差，夾具制造時(shí)需注意加強(qiáng)。
　　短針布局夾具
　　泛指鋼針為2.0"(50.8mm)的夾具布局，長(zhǎng)處為布局強(qiáng)度較好，但撒針斜率較小。
　　5.輔佐軟件(CAM)
　　在高密度通用測(cè)驗(yàn)中，恰當(dāng)?shù)腃AM撐持是十分重要的，主要由兩有些組成：
　　網(wǎng)路剖析及測(cè)驗(yàn)點(diǎn)生成;
　　夾具輔佐制造。
　　由于夾具制造進(jìn)程的許多參數(shù)(如夾具層間布局、鉆孔孔徑、安全孔距、支柱布局等)都很大程度影響夾具測(cè)驗(yàn)作用，這一部份必需要由廠商指使嫻熟工程師練習(xí)， 并不斷總結(jié)經(jīng)驗(yàn)， 才能把夾具做得非常好。
　　三、雙密度與四密度比擬
　　首要，四密度能夠完成雙密度無(wú)法測(cè)驗(yàn)的板，由于針床上的繃簧針點(diǎn)陣密度與線路板上的測(cè)驗(yàn)點(diǎn)的密度不一樣而使得測(cè)驗(yàn)夾具的鋼針必須有必定的斜率，才能將on grid 轉(zhuǎn)變成為off grid，但是鋼針的斜度是遭到布局約束的，不能夠無(wú)限地加大，通常狀況下，雙密度的鋼針
　　斜率(測(cè)驗(yàn)鋼針在夾具中水平偏移的間隔)最大為700mil， 四密度為400mil，那么，就有能夠發(fā)生無(wú)法種針的表象，終究有多少這樣的針是能夠經(jīng)過(guò)核算得出的。
　　別的，在測(cè)驗(yàn)作用上可顯著改進(jìn)測(cè)驗(yàn)的假點(diǎn)率和壓痕狀況，四密度的點(diǎn)陣密度為每平方英寸400點(diǎn)，雙密度為200點(diǎn)，一樣點(diǎn)數(shù)在夾具底層上的撒針面積能夠減小一半，所以，選用四密度能夠減小鋼針的斜度，在夾具高度一樣的狀況下，同一款測(cè)驗(yàn)板的撒針斜率四密度基本上是雙密度的一半，而鋼針的斜度會(huì)對(duì)測(cè)驗(yàn)作用有很大的影響，斜率大則筆直方向上的間隔減小，繃簧針壓力會(huì)因此而減小，而夾具各層對(duì)鋼針在筆直方向的阻力增大，致使鋼針與PAD觸摸不良。別的，歪斜的鋼針在上下模壓合的進(jìn)程中與PCB觸摸的一端會(huì)在PAD外表有相對(duì)滑動(dòng)，若是夾具的強(qiáng)度欠好而變形，鋼針卡在夾具中，此刻，鋼針在PAD上的壓力就遠(yuǎn)遠(yuǎn)不止是針床繃簧針的彈力，嚴(yán)峻時(shí)就會(huì)發(fā)生壓痕。四密度的鋼針斜率比雙密度的小，則有更多空間在夾具上裝置支撐柱，使夾具布局愈加安穩(wěn)。斜率小的別的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是，能夠使鉆孔孔徑減小，然后減小孔破的能夠。
　　關(guān)于PAD的距離為20mil均勻散布的BGA，撒針最大斜率雙密按600mil，四密按400mil核算時(shí)，用雙密度測(cè)驗(yàn)可擺放的點(diǎn)數(shù)為441個(gè)，約0.17inch2，而用四密度測(cè)驗(yàn)時(shí)可擺放的點(diǎn)數(shù)為896個(gè)，約0.35inch2?；臼请p密度的一倍，由可知一斑。